National Instruments anunță organizarea celui de-al doilea Automated Test Summit din Europa Centrală și de Est. Această conferință pe durata unei întregi zile este dedicată inginerilor care proiectează și testează ultimele generații de produse din aproape orice domeniu. Produsele testate se încadrează într-o gamă foarte variată, incluzând cele mai noi dispozitive electronice de larg consum, printre care televizoare, set-top-boxuri, electrocasnice, precum și electronice high-tech pentru sisteme de transport civile și militare, ca de exemplu radio transponder avionic, ECU sau sisteme multimedia pentru automotive.
» ni.com/romania/automatedtest

Rezumatul evenimentului

1. Prezentări: Integratori de sisteme, utilizatori și ingineri NI vor susține prezentări pe o serie de subiecte din domeniu.
2. Zona expoziției: Demonstrații ale produselor National Instruments și ale soluțiilor partenerilor.
3. Know-How: Aflați mai multe despre metodele și platformele dedicate reducerii costului, duratei testărilor și despre accelerarea dezvoltării testelor pentru produse și sisteme cu orice nivel de complexitate.
4. Networking: Schimb de experiență - întâlniți-vă colegii din industrie.
5. Examen TestStand: Examen gratuit pentru certificatul TestStand Developer (CTD).
6. Examen LabVIEW: Examen gratuit pentru certificatul LabVIEW Associate Developer (CLAD).

Programul și rezumatele prezentărilor sunt disponibile!

Bucureşti - 5 Aprilie, 2011

Ora	Subiectul prezentării	Prezentare susţinută de
8:30	Înregistrare
9:00	Keynote: Tehnici și Metode Cheie utilizate în Industria de Testare Automată	Thorsten Mayer, Strategic Marketing Director Eastern Europe, National Instruments
9:45	Garantarea calității produsului finit prin tehnologii avansate de măsurare	Mircea-Emil Stremtan, National Instruments
10:45	Pauză de cafea
11:00	Echipament de măsurare presiuni dinamice	Cristian Iacob, SC Computer Power SRL
11:30	Emularea Semnalelor cu rol de Stimuli și a răspunsurilor în Real Time utilizând tehnologia FPGA pentru verificarea funcționalității echipamentelor în etapa de testare (Protocol-Aware Test)	Vlad Zileriu, National Instruments
12:30	Prânz
13:30	Sisteme de testare automată a termostatelor	Tom Savu, Dolsat Consult
14:00	Implementarea Testerului de Funcționalitate - abordare din perspectiva dezvoltării unei soluții la cheie (prezentare în limba engleză)	Marcin Chruściel, ES International - CIT Engineering
14:30	Pauză de cafea
14:45	Metode pentru Reducerea Timpului de Testare, Dezvoltare și Optimizare a Execuției Testelor	Michał Kozarzewski, National Instruments
15:15	Reducerea Timpilor de Testare din domeniul Audio/Video utilizând soluții la cheie	Vlad Zileriu, National Instruments
15:45	Gratis: Examen certificare TestStand (CTD) sau examen LabVIEW (CLAD). Înregistrați-vă la examenele CTD sau CLAD trimițând un email către register.romania@ni.com.

» Click aici pentru a citi sumarul tuturor prezentărilor.

Timişoara - 7 Aprilie, 2011

Ora	Subiectul prezentării	Prezentare susţinută de
8:30	Înregistrare
9:00	Keynote: Tehnici și Metode Cheie utilizate în Industria de Testare Automată	Thorsten Mayer, Strategic Marketing Director Eastern Europe, National Instruments
9:45	Garantarea calității produsului finit prin tehnologii avansate de măsurare	Mircea-Emil Stremtan, National Instruments
10:45	Pauză de cafea
11:00	Emularea Semnalelor cu rol de Stimuli și a răspunsurilor în Real Time utilizând tehnologia FPGA pentru verificarea funcționalității echipamentelor în etapa de testare (Protocol-Aware Test)	Vlad Zileriu, National Instruments
12:00	Implementarea Testerului de Funcționalitate - abordare din perspectiva dezvoltării unei soluții la cheie (prezentare în limba engleză)	Marcin Chruściel, ES International - CIT Engineering
12:30	Prânz
13:30	Metode pentru Reducerea Timpului de Testare, Dezvoltare și Optimizare a Execuției Testelor	Mircea-Emil Stremtan, National Instruments
14:00	Reducerea Timpilor de Testare din domeniul Audio/Video utilizând soluții la cheie	Vlad Zileriu, National Instruments
14:30	Pauză de cafea
14:45	Gratis: Examen certificare TestStand (CTD) sau examen LabVIEW (CLAD). Înregistrați-vă la examenele CTD sau CLAD trimițând un email către register.romania@ni.com.

» Click aici pentru a citi sumarul tuturor prezentărilor.

Automated Test Summit 2011 în 11 locații
NI Automated Test Summit 2011 va vizita 11 orașe din Europa Centrală și de Est. Alăturați-vă National Instruments într-unul din aceste orașe pentru a beneficia de programul cuprinzător pe care vi-l oferă!
» Doresc să particip!

Examene gratuite
Toți participanții au dreptul de a se înscrie la examenele pentru certificări TestStand Developer (CTD) sau LabVIEW Associate Developer (CLAD) gratuit, ce vor avea loc în aceeași zi. Aceste certificări demonstrează înțelegerea conceptelor de bază și a funcționalității mediilor de dezvoltare NI TestStand sau NI LabVIEW, standarde industriale în testare automată.

Înregistrați-vă la examenele CTD sau CLAD trimițând un email către register.romania@ni.com. Vă rugăm să includeți în email numele dumneavoastră,  al companiei pentru care lucrați și certificarea de care sunteți interesat.Pentru detalii referitoare la examenele CTD sau CLAD vă rugăm să ne contactați la 0 800 894 308.

 
Automated Test Summit - ni.com/romania/automatedtest
Bucureşti - 5 Aprilie, 2011 | Timişoara - 7 Aprilie, 2011 - Doresc să particip!